图书介绍
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- 《半导体器件可靠性》编写组编 著
- 出版社： 北京：国防工业出版社
- ISBN：15034·1635
- 出版时间：1978
- 标注页数：372页
- 文件大小：11MB
- 文件页数：378页
- 主题词：
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图书目录
目录6
引言6
第一章 可靠性的基础知识11
§1 数学预备知识11
§2 可靠性的定义和数学描述18
§3 器件的失效规律和常用的寿命分布22
第二章 抽样检验28
§1 关于两类错误29
§2 单式计件抽样31
§3 复式计件抽样和序贯计件抽样简介38
§4 计量抽样简介41
§5 各种抽样方法的比较44
§6 寿命试验的抽样问题48
第三章 可靠性试验50
§1 概述50
§2 环境实验53
§3 寿命试验66
§4 加速试验68
§5 特殊试验88
§6 使用试验91
§7 可靠性筛选92
§8 可靠性考核和鉴定106
§9 数据处理109
§1 目的和内容124
第四章 失效分析124
§2 失效模式126
§3 失效机理133
§4 MOS电路和大规模集成电路的失效机理155
§5 辐射引起的失效159
§6 失效分析方法164
第五章 设计与工艺中的可靠性考虑175
§1 设计中的可靠性考虑175
§2 提高可靠性的工艺措施194
§3 防止功率器件热烧毁220
§4 提高器件的抗辐射性能226
§1 质量控制的内容230
第六章 质量控制230
§2 环境控制232
§3 工艺监控方法238
§4 质量控制图264
第七章 系统可靠性280
§1 可靠性逻辑框图和数学模型280
§2 简单系统的可靠性计算（数学模型）283
§3 可靠性预计298
§4 可靠性分配312
附录 Ⅰ 抽样表、常用分布表、系数f值表320
附录 Ⅱ 国内外集成电路的镜检标准参考351
附录 Ⅲ 系统可靠性计算用若干公式的推导361