图书介绍
边界扫描测试技术及应用PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 陈圣俭，牛春平，石海滨编著 著
- 出版社： 北京：国防工业出版社
- ISBN：9787118107142
- 出版时间：2016
- 标注页数：257页
- 文件大小：29MB
- 文件页数：269页
- 主题词：边界扫描技术－测试技术
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图书目录
第1章 边界扫描测试技术概述1
1.1 技术背景及研究进展1
1.2 边界扫描测试技术原理及测试过程4
1.2.1 基本原理4
1.2.2 测试过程7
1.3 测试逻辑结构及框架8
1.4 边界扫描测试技术的运用10
第2章 测试访问端口13
2.1 时钟输入（TCK）14
2.2 测试模式选择输入（TMS）15
2.3 测试数据输入（TDI）15
2.4 测试数据输出（TDO）16
2.5 测试复位输入（TRST）16
第3章 TAP控制器17
3.1 TAP控制器功能概述17
3.1.1 TAP控制器的状态转换18
3.1.2 TAP控制器16个状态功能描述19
3.2 TAP控制器工作原理27
3.2.1 TAP控制器对指令寄存器的控制28
3.2.2 TAP控制器对测试数据寄存器的控制30
3.3 TAP控制器设计实现33
3.3.1 传统设计方法33
3.3.2 基于硬件描述语言的设计方法39
3.3.3 TAP控制器的初始化41
第4章 指令寄存器及测试指令43
4.1 指令寄存器功能概述43
4.2 指令寄存器工作原理及设计实现44
4.3 测试指令47
4.3.1 指令的分类47
4.3.2 测试指令集48
第5章 测试数据寄存器67
5.1 测试数据寄存器概述67
5.2 边界扫描寄存器71
5.2.1 边界扫描寄存器的设计与实现73
5.2.2 边界扫描寄存器单元76
5.2.3 特殊情况的优化设计110
5.3 旁路寄存器113
5.4 器件标识寄存器114
5.4.1 器件标识寄存器的原理及设计实现114
5.4.2 制造厂商标识码（Manufacturer Identity Code）116
5.4.3 Part-number码和版本号（Version）117
第6章 边界扫描互连诊断算法118
6.1 故障模型及基本概念119
6.1.1 故障模型119
6.1.2 基本概念121
6.1.3 边界扫描互连诊断算法优劣评价标准122
6.2 边界扫描互连诊断算法研究现状及存在的问题123
6.2.1 常规互连诊断算法研究现状123
6.2.2 结构互连诊断算法研究现状125
6.2.3 自适应互连诊断算法研究现状126
6.2.4 边界扫描互连诊断算法存在的问题127
6.3 有关征兆误判和征兆混淆的定理和推论的证明128
6.3.1 故障检测定理128
6.3.2 抗误判定理129
6.3.3 完备性定理131
6.4 W-A与W-O+W-A的常规互连诊断算法132
6.4.1 改进的W-O抗误判算法132
6.4.2 改进的W-A抗误判算法135
6.4.3 同时具备W-O和W-A对角独立性的多故障测试生成算法137
6.4.4 W-A的GNS算法141
6.4.5 W-O＋W-A的GNS算法143
6.4.6 常规互连诊断算法总结145
6.5 结构互连诊断算法147
6.5.1 故障提取及故障原因分析147
6.5.2 短路故障提取方法148
6.5.3 结构算法相关定义151
6.5.4 现有结构诊断算法分析152
6.6 W-A与W-O+W-A的自适应互连诊断算法159
6.6.1 W-A的自适应互连诊断算法159
6.6.2 W-O+W-A的自适应互连诊断算法162
6.6.3 改进的自适应互连诊断算法165
第七章 混合电路边界扫描测试标准IEEE1149.4172
7.1 混合电路测试工作原理及基本测试结构172
7.2 测试总线接口电路（TBIC）176
7.2.1 测试总线与TBIC结构176
7.2.2 测试总线接口电路控制178
7.2.3 隔离内部测试总线结构180
7.3 ABM模块182
7.3.1 ABM的基本结构182
7.3.2 ABM的控制185
7.3.3 差分ABM187
7.4 指令190
7.5 测量方法193
7.5.1 互连测试193
7.5.2 扩展互连测试194
7.5.3 网络测量196
第八章 模块测试及维护总线标准IEEE1149.5197
8.1 IEEE 1149.5 标准简介197
8.2 IEEE1149.5 MTM总线的结构、寻址方式和物理层协议200
8.3 IEEE1149.5 MTM总线的链路层协议202
8.3.1 消息包说明及要求203
8.3.2 主模块的链路层协议204
8.3.3 从模块的链路层协议206
8.4 IEEE1149.5 MTM总线的消息层协议209
第9章 数字电路系统边界扫描测试技术应用212
9.1 被测系统描述212
9.1.1 被测系统分析212
9.1.2 被测系统测试性设计214
9.2 主控系统硬件设计222
9.3 主控系统软件设计224
9.4 边界扫描测试验证与结果分析230
9.4.1 边界扫描互连测试验证232
9.4.2 边界扫描簇测试验证238
9.4.3 芯片功能自测试验证241
9.4.4 BIST测试241
第10章 基于边界扫描测试技术的混合信号电路BIT应用242
10.1 研究对象简介242
10.2 基于边界扫描技术的混合信号电路测试性设计242
10.3 被测电路系统的设计和改造243
10.3.1 相关性分析和建模243
10.3.2 测试优选246
10.3.3 制定诊断策略247
10.3.4 基于边界扫描技术的BIT设计实现248
10.4 测试类型和测试方法252
10.4.1 边界扫描链路完整性测试252
10.4.2 器件间互连测试252
10.4.3 分立元件参数测试254
参考文献257