图书介绍

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中国国家标准分类汇编 电子与信息技术卷 13
  • 中国标准出版社编 著
  • 出版社: 北京:中国标准出版社
  • ISBN:7506609223
  • 出版时间:1994
  • 标注页数:753页
  • 文件大小:80MB
  • 文件页数:759页
  • 主题词:

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图书目录

L56 GB 3834—83半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理1

L56 GB 3835—83半导体集成电路接口电路系列和品种39

L56 GB 4376—84半导体集成电路 稳压器系列和品种135

L56 GB 4377—84半导体集成电路 稳压器测试方法的基本原理191

L56 GB 4378—84半导体集成电路cμ 6800/cμ 6809微处理机电路系列和品种203

L56 GB 4379—84半导体集成电路cμ 8080/cμ 8085微处理机电路系列和品种257

L56 GB 4590—84半导体集成电路机械和气候试验方法315

L56 GB 4719—84半导体集成电路新产品定型鉴定的程序规则364

L56 GB 4855—84半导体集成电路线性放大器系列和品种375

L56 GB 5228—85半导体集成电路音响电路系列和品种391

L56 GB 5229—85半导体集成电路电视机电路系列和品种445

L56 GB 5965—86半导体集成电路双极型门电路空白详细规范(可供认证用)469

L56 GB 6304—86电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7176CP伴音中频放大电路(可供认证用)479

L56 GB 6305—86电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7609CP行、场扫描电路(可供认证用)494

L56 GB 6647—86半导体集成电路4位微型机电路系列和品种512

L56 GB 6648—86半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范(可供认证用)559

L56 GB 6649—86半导体集成电路外壳总规范570

L56 GB 6793—86半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理594

L56 GB 6794—86半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理609

L56 GB 6795—86半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理626

L56 GB 6796—86半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理647

L56 GB 6797—86半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理672

L56 GB 6798—86半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理699

L56 GB 6799—86半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理720

L56 GB 6800—86半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理738

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