图书介绍
数字电路老化预测与容忍PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 徐辉著 著
- 出版社： 合肥：中国科学技术大学出版社
- ISBN：9787312043598
- 出版时间：2018
- 标注页数：123页
- 文件大小：11MB
- 文件页数：137页
- 主题词：数字集成电路－研究
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图书目录
第1章 引言1
1.1研究的背景和意义1
1.2集成电路可靠性相关知识介绍3
1.2.1 HCI效应导致的集成电路老化4
1.2.2 NBTI效应引起的集成电路老化5
1.2.3亚阈值漏电流7
1.3老化研究现状及其局限性8
1.4本书的研究内容及贡献10
1.5本书的课题来源及组织结构12
第2章 集成电路老化的相关研究14
2.1 NBTI效应的反应-扩散模型14
2.2 NBTI效应引起电路衰退的预测解析模型17
2.2.1静态NBTI效应衰退模型17
2.2.2动态NBTI效应衰退模型18
2.2.3长时NBTI效应衰退精简模型20
2.3集成电路的老化预测方法23
2.3.1集成电路老化的在线预测/监测方法24
2.3.2基于预兆单元的集成电路老化检测/预测方案28
2.3.3集成电路硅前老化预测30
2.4集成电路的老化防护方法33
2.4.1基于电路拓扑结构重构的老化防护33
2.4.2基于向量恢复的集成电路老化防护36
2.4.3基于内部节点控制的集成电路老化防护37
2.4.4基于动态调整技术的集成电路老化防护40
第3章 低开销的信号违规检测结构43
3.1目标故障44
3.1.1目标故障类型44
3.1.2目标故障在时序电路中的表现形式45
3.2低开销信号违规检测器LSVD结构48
3.3实验结果50
3.3.1故障检测能力分析50
3.3.2 LSVD自身抗老化分析52
3.3.3面积开销分析52
3.3.4功耗开销分析53
3.4结论54
第4章 基于对称或非门的老化预测/检测改进方案55
4.1老化预测及能力不平衡的原因56
4.2改进的方案57
4.3仿真与比较61
4.3.1不同工艺尺寸下的相对误差62
4.3.2 PVT对于改进SC的影响63
4.3.3版图比较66
4.4总结67
第5章 容忍老化的多米诺门68
5.1多米诺电路及其老化68
5.1.1有足多米诺电路和无足多米诺电路69
5.1.2多米诺电路的性能71
5.1.3 NBTI效应对于多米诺电路的影响72
5.2高扇入多米诺或门74
5.3带有老化补偿的容忍老化的多米诺或门电路75
5.3.1保持器工作原理76
5.3.2输出反相器工作原理78
5.4补偿晶体管的控制电路79
5.4.1保持器补偿电路控制信号KPR_ ctr的产生80
5.4.2输出反相器补偿晶体管控制信号MP3_ ctr的产生81
5.4.3控制电路的抗老化分析82
5.5老化程度对于补偿晶体管的要求84
5.6仿真结果和性能分析86
5.7总结89
第6章 低漏电流、抑制NBTI效应的多米诺电路90
6.1休眠模式对于多米诺电路老化和漏电流的影响91
6.2本章提出的多米诺逻辑电路92
6.2.1抑制NBTI效应引起的老化以及降低漏电流的基本思路92
6.2.2本章提出的电路技术92
6.3实验结果93
6.3.1固定RAS下NBTI效应导致的多米诺电路性能衰退95
6.3.2 RAS对于衰退减少量的影响96
6.3.3休眠模式下漏电流的降低97
6.3.4动态功耗与面积开销98
6.4改进的多米诺电路技术在芯片中的实施100
6.5结论100
第7章 总结与展望102
7.1总结102
7.2展望103
附录1 PTM 65 nm模型106
附录2专有名词缩写对照表111
参考文献113