图书介绍
纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- （美国）桑迪普K.戈埃尔，（印度）科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编；续海涛等译 著
- 出版社： 北京：机械工业出版社
- ISBN：9787111521846
- 出版时间：2016
- 标注页数：191页
- 文件大小：26MB
- 文件页数：207页
- 主题词：纳米材料－MOS集成电路－缺陷检测
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图书目录
第1章 小延迟缺陷测试的基本原理1
1.1 简介1
1.2 半导体制造中的趋势和挑战1
1.2.1 制程复杂度1
1.2.2 工艺参数变化2
1.2.3 随机性与系统性缺陷3
1.2.4 功耗和时序优化的含义4
1.2.5 良率、质量和故障覆盖率的相互作用5
1.3 已有测试方法与更小几何尺寸的挑战6
1.3.1 连线固定型故障模型7
1.3.2 桥接型故障模型8
1.3.3 n检测9
1.3.4 过渡故障模型10
1.3.5 路径延迟故障模型11
1.3.6 测试实现和适应性测试13
1.4 小延迟对过渡测试的影响14
参考文献15
第1部分 时序敏感ATPG21
第2章 K最长路径21
2.1 简介21
2.2 组合电路的路径生成22
2.2.1 精炼的隐含的假路径消除26
2.3 组合电路的实验结果30
2.4 扩展成时序电路的基于扫描的全速测试35
2.5 扫描电路的路径生成36
2.5.1 扫描式触发器上的含义36
2.5.2 非扫描式存储上的约束37
2.5.3 最终辩护38
2.6 扫描电路的实验结果39
2.6.1 健壮测试39
2.6.2 与过渡故障测试的对比39
2.7 小结42
参考文献42
第3章 时序敏感ATPG44
3.1 简介44
3.2 延迟计算和质量度量45
3.2.1 延迟计算45
3.2.2 延迟测试质量度量47
3.3 确定性测试生成49
3.3.1 包含时序信息的测试生成50
3.3.2 包含时序信息的故障仿真51
3.4 测试质量和测试成本之间的折衷52
3.4.1 基于余量裕度的舍弃52
3.4.2 时序关键故障53
3.5 实验结果54
参考文献59
第2部分 超速63
第4章 筛选小延迟缺陷的超速测试63
4.1 简介63
4.2 设计实现65
4.3 测试模式延迟分析66
4.3.1 在功能性速度下的动态电压降分析67
4.3.2 针对超速测试的动态电压降分析69
4.4 超速测试技术敏感的电压降73
4.4.1 模式分组73
4.4.2 性能降低△T′Gi的估算74
4.5 实验结果77
4.6 小结79
4.7 致谢80
参考文献80
第5章 考虑版图、工艺偏差和串扰的电路路径分级82
5.1 简介82
5.1.1 SDD检测的商业方法82
5.1.2 SDD检测的学术建议85
5.2 分析因偏差引起的SDD86
5.2.1 工艺偏差对路径延迟的影响86
5.2.2 串扰对路径延迟的影响89
5.3 TDF模式评估与选择91
5.3.1 路径PDF分析92
5.3.2 模式选择92
5.4 实验结果与分析94
5.4.1 模式选择效率的分析95
5.4.2 模式集分析95
5.4.3 长路径阈值分析97
5.4.4 CPU运行时间分析97
5.5 小结98
5.6 致谢98
参考文献99
第3部分 替代方案103
第6章 基于输出偏差的SDD测试103
6.1 简介103
6.2 替代方案的必要性103
6.3 SDD的概率性延迟故障模型以及输出偏差106
6.3.1 输出偏差的方法106
6.3.2 对工业电路的实用层面以及适用性113
6.3.3 与基于SSTA的技术的比较116
6.4 仿真结果118
6.4.1 实验设置和标准118
6.4.2 仿真结果119
6.4.3 原始的方法与改进后的方法的比较121
6.5 小结124
6.6 致谢124
参考文献124
第7章 小延迟缺陷的混合／补充测试模式生成方案126
7.1 简介126
7.2 时序敏感ATPG的故障集127
7.3 小延迟缺陷模式生成129
7.3.1 方法1：TDF＋补充SDD129
7.3.2 方法2：补充SDD＋补充TDF130
7.4 实验结果131
7.5 小结136
参考文献136
第8章 针对小延迟缺陷的基于电路拓扑的测试模式生成138
8.1 简介138
8.2 基于电路拓扑的故障选择139
8.3 SDD模式生成142
8.4 实验结果与分析143
8.4.1 延迟测试覆盖率144
8.4.2 唯一长路径的数量147
8.4.3 最长路径的长度149
8.4.4 唯一SDD的数量150
8.4.5 随机故障注入与检测151
8.5 小结154
参考文献155
第4部分 SDD的测量标准159
第9章 小延迟缺陷覆盖率的测量标准159
9.1 覆盖率测量标准的作用159
9.2 现有指标的概述161
9.2.1 延迟测试覆盖率指标161
9.2.2 统计型延迟质量等级指标164
9.3 所提出的SDD测试覆盖率指标167
9.3.1 二次SDD测试覆盖率指标169
9.3.2 超速测试169
9.4 实验结果170
9.4.1 对系统频率的敏感性173
9.4.2 对缺陷分布的敏感性174
9.4.3 时序敏感与超速的对比176
9.5 小结178
参考文献178
第10章 总结181
参考文献184