图书介绍
CMOS数字集成电路 分析与设计PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 康松默约瑟夫·列波列比西著 著
- 出版社： 北京：电子工业出版社
- ISBN：9787121089015
- 出版时间：2009
- 标注页数：482页
- 文件大小：40MB
- 文件页数：496页
- 主题词：互补MOS集成电路－电路分析－教材；互补MOS集成电路－电路设计－教材
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图书目录
第1章 概论1
1.1 发展历史1
1.2 本书的目标和结构4
1.3 电路设计举例6
1.4 VLSI设计方法综述14
1.5 VLSI设计流程15
1.6 设计分层17
1.7 规范化、模块化和本地化的概念18
1.8 VLSI的设计风格20
1.9 设计质量29
1.10 封装技术31
1.11 计算机辅助设计技术33
1.12 习题34
第2章 MOS场效应管的制造36
2.1 引言36
2.2 制造工艺的基本步骤36
2.3 CMOS n阱工艺44
2.4 版图设计规则44
2.5 全定制掩膜版图设计51
2.6 习题55
第3章 MOS晶体管64
3.1 金属-氧化物-半导体（MOS）结构64
3.2 外部偏置下的MOS系统67
3.3 MOS场效应管（MOSFET）的结构和作用69
3.4 MOSFET的电流-电压特性76
3.5 MOSFET的收缩和小尺寸效应86
3.6 MOSFET电容97
3.7 习题105
第4章 用SPICE进行MOS管建模109
4.1 概述109
4.2 基本概念109
4.3 一级模型方程111
4.4 二级模型方程113
4.5 三级模型方程117
4.6 先进的MOSFET模型118
4.7 电容模型118
4.8 SPICE MOSFET模型的比较121
4.9 附录123
4.10 习题125
第5章 MOS反相器的静态特性126
5.1 概述126
5.2 电阻负载型反相器131
5.3 n型MOSFET负载反相器138
5.4 CMOS反相器146
5.5 习题159
第6章 MOS反相器的开关特性和体效应162
6.1 概论162
6.2 延迟时间的定义163
6.3 延迟时间的计算164
6.4 延迟限制下的反相器设计171
6.5 互连线电容的估算179
6.6 互连线延迟的计算187
6.7 CMOS反相器的开关功耗193
6.8 附录199
6.9 习题201
第7章 组合MOS逻辑电路204
7.1 概述204
7.2 带耗尽型nMOS负载的MOS逻辑电路205
7.3 CMOS逻辑电路213
7.4 复合逻辑电路219
7.5 CMOS传输门229
7.6 习题236
第8章 时序MOS逻辑电路241
8.1 概述241
8.2 双稳态元件的特性242
8.3 SR锁存电路245
8.4 钟控锁存器和触发器电路250
8.5 CMOS的D锁存器和边沿触发器256
8.6 附录261
8.7 习题264
第9章 动态逻辑电路267
9.1 概述267
9.2 传输晶体管电路的基本原理268
9.3 电压自举技术276
9.4 同步动态电路技术279
9.5 动态CMOS电路技术283
9.6 高性能动态逻辑CMOS电路286
9.7 习题299
第10章 半导体存储器303
10.1 概述303
10.2 动态随机存储器（DRAM）306
10.3 静态随机存取存储器（SRAM）329
10.4 非易失存储器340
10.5 闪存350
10.6 铁电随机存储器（FRAM）357
10.7 习题359
第11章 低功耗CMOS逻辑电路363
11.1 概述363
11.2 功耗综述364
11.3 电压按比例降低的低功率设计371
11.4 开关激活率的估算和最佳化379
11.5 减小开关电容384
11.6 绝热逻辑电路385
11.7 习题390
第12章 BiCMOS逻辑电路392
12.1 概述392
12.2 双极型晶体管（BJT）的结构和工作原理394
12.3 BJT的动态特性403
12.4 基本BiCMOS电路的静态特性408
12.5 BiCMOS逻辑电路的开关延迟410
12.6 BiCMOS的应用414
12.7 习题417
第13章 芯片输入输出电路420
13.1 概述420
13.2 静电放电（ESD）保护420
13.3 输入电路423
13.4 输出电路和L（di/dt）噪声426
13.5 片内时钟生成和分配430
13.6 “闩锁”现象及其预防措施434
13.7 习题439
第14章 产品化设计441
14.1 概述441
14.2 工艺变化441
14.3 基本概念和定义443
14.4 实验设计与性能建模447
14.5 参数成品率的评估453
14.6 参数成品率的最大值456
14.7 最坏情况分析458
14.8 性能参数变化的最小化462
14.9 习题465
第15章 可测性设计468
15.1 概述468
15.2 故障类型和模型468
15.3 可控性和可观察性471
15.4 专用可测试性设计技术472
15.5 基于扫描的技术474
15.6 内建自测（BIST）技术475
15.7 电流监控IDDQ检测477
15.8 习题478
参考文献479