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1 结晶学基础1

1.1 晶体与非晶质体1

1.1.1 晶体的定义1

1.1.2 晶体的基本性质2

1.1.3 非晶质体3

1.1.4 晶体的投影3

1.2 晶体的宏观对称5

1.2.1 对称的概念5

1.2.2 对称操作及对称要素6

1.2.3 对称要素的极射赤平投影10

1.2.4 对称要素的组合11

1.2.5 32种对称型11

1.2.6 晶体的分类14

1.2.7 对称型的国际符号16

1.3 晶体的定向及晶体学符号18

1.3.1 晶体的定向19

1.3.2 晶面符号20

1.3.3 晶棱和晶带符号24

1.4 晶体的理想形态25

1.4.1 单形25

1.4.2 聚形34

1.4.3 单形符号35

1.5 晶体的内部结构35

1.5.1 晶体结构与空间点阵36

1.5.2 十四种空间格子37

1.5.3 晶胞39

1.5.4 晶体内部结构的对称要素40

1.5.5 空间群45

2 偏光显微镜分析技术49

2.1 晶体光学基础49

2.1.1 光的波动性49

2.1.2 自然光和偏振光50

2.1.3 光的折射与全反射50

2.1.4 光在均质体和非均质体中的传播特点52

2.1.5 光率体53

2.1.6 光性方位60

2.2 偏光显微镜61

2.3 单偏光镜下晶体的光学性质63

2.3.1 晶体的形态63

2.3.2 解理及解理夹角63

2.3.3 矿物的颜色与多色性、吸收性65

2.3.4 矿物的轮廓、贝克线、糙面及突起67

2.4 正交偏光镜间晶体的光学性质70

2.4.1 正交偏光镜的装置及光学特点70

2.4.2 正交偏光镜间矿片的消光现象和消光位70

2.4.3 正交偏光镜间光波的干涉现象71

2.4.4 干涉色及干涉色色谱表73

2.4.5 补色法则及补色器76

2.4.6 正交偏光镜下晶体主要光学性质的观察与测定77

2.5 锥光镜下晶体的光学性质82

2.5.1 锥光镜的装置及特点82

2.5.2 —轴晶干涉图83

2.5.3 二轴晶干涉图90

2.5.4 二轴晶光轴角的测定96

2.6 油浸法98

2.7 矿物颗粒大小及含量的测定99

2.7.1 矿物颗粒直径的测定99

2.7.2 矿物含量的测定100

2.8 透明矿物薄片的系统鉴定102

3 X射线衍射分析技术103

3.1 X射线物理基础103

3.1.1 X射线的本质103

3.1.2 X射线的产生104

3.1.3 X射线谱105

3.1.4 X射线与物质的相互作用107

3.1.5 X射线的探测和防护109

3.2 X射线衍射原理110

3.2.1 晶体对X射线的衍射及布拉格方程110

3.2.2 衍射矢量方程及厄瓦尔德图解113

3.2.3 结构因子与点阵消光法则115

3.2.4 X射线衍射线束的强度117

3.3 X射线衍射方法120

3.4 X射线衍射仪124

3.4.1 X射线光源125

3.4.2 X射线测角仪127

3.4.3 探测与记录系统136

3.4.4 微型电子计算机对衍射仪的运控、测量和数据处理139

3.4.5 实验与测量方法142

3.5 粉晶X射线物相分析146

3.5.1 粉晶X射线定性相分析146

3.5.2 X射线定量相分析156

3.6 粉晶法衍射线的指标化173

3.7 晶面取向度的测定175

3.8 晶体结晶度的测定176

4 热分析技术181

4.1 差热分析181

4.1.1 差热分析的基本原理181

4.1.2 差热分析曲线184

4.1.3 差热分析的应用191

4.2 差示扫描量热分析194

4.2.1 差示扫描量热分析的原理194

4.2.3 差示扫描量热法的温度和能量校正196

4.2.2 差示扫描量热曲线196

4.2.4 差示扫描量热分析的应用198

4.3 热重分析203

4.3.1 热重分析的原理与仪器203

4.3.2 热重曲线204

4.3.3 影响热重曲线的因素205

4.3.4 热重分析的应用208

4.4 热膨胀法209

4.4.1 热膨胀法的基本原理209

4.4.2 热膨胀仪及实验方法209

4.4.3 热膨胀法的应用210

4.5 综合热分析法211

4.5.1 综合热分析法概论211

4.5.2 综合热分析法的应用212

5 电子显微镜216

5.1 概述216

5.1.1 电镜发展简史216

5.1.3 电子与样品的相互作用217

5.1.2 电镜的分类217

5.2 透射电镜218

5.2.1 电子光学基础218

5.2.2 透射电镜的构造与成像原理224

5.2.3 电子衍射花样及简单标定方法230

5.2.4 透射电镜在建筑材料研究中的应用236

5.3 扫描电镜SEM243

5.3.1 扫描电镜的结构与成像原理243

5.3.2 扫描电镜的分辨率与放大倍数244

5.3.3 二次电子和背散射电子的检测及其图像245

5.3.4 扫描电镜在建筑材料研究中的应用246

5.4 电镜分析对样品的要求250

5.4.1 透射电镜对样品的要求250

5.4.2 扫描电镜对样品的要求251

6 红外光谱253

6.1 红外光谱的基本原理253

6.1.1 红外光与红外光谱253

6.1.2 分子内部的能级254

6.1.3 分子的振动光谱255

6.1.4 分子的基本振动类型256

6.1.5 振动吸收的特征257

6.2 红外分光光度计的构造及工作原理258

6.2.1 红外分光光度计的种类及工作原理258

6.2.2 红外分光光度计的组成260

6.2.3 红外光谱实验技术261

6.3 红外光谱的基本分析方法262

6.3.1 定性分析262

6.3.2 定量分析265

6.4.1 胶凝材料的红外光谱研究268

6.4 红外光谱法在无机非金属材料研究中的应用268

6.4.2 陶瓷及其原料的红外光谱研究278

6.4.3 玻璃的红外光谱研究281

参考文献283

附录1 角因数1+cos220/sin20cos0284

附录2 某些物质的特征温度?285

附录3 计算温度因子的数据(做为x的函数φ(x)值)286

附录4 德拜函数φ(x)/x+1/4数值286

附录5 德拜-瓦伦温度因子e-?in20/λ2=e-M287